在众多固态硬盘测试工具当中，IOMeter在玩家群体中的知名度并不算很高，但能够满足专业SSD测试中你所需要的一切功能。上一期内容已经为大家介绍了IOMeter的界面，并用它测试了固态硬盘的顺序读取，今天我们来看如何用IOMeter进行随机存取测试。

固态硬盘厂商标称的顺序读写和随机读写IOPS，大都是将IOMeter作为指定测试工具。

IOPS随机读写性能测试：

通常来说，固态硬盘厂商标称的IOPS（每秒输出输出次数）是理想状态下4K随机读写峰值，即队列深度和测试线程尽可能大，但又不会引起副作用的设定。通常测试设置可以像下面这样进行：4KB区块、100%随机、100%读取、4KB对齐。

测试范围：8GB LBA。数据模型：伪随机（使用Full random完全随机经常引发错误，而且伪随机对于SSD主控来说已经是不可压缩的了）。队列深度（Outstanding I/Os）设置为32。虽然NVMe协议允许65535队列长度，但消费级SSD的主控通常支持不了那么高。

然后我们将上面设置好的这个Worker（测试线程）复制一下，一共复制出8个Worker，也就是同时使用8个测试线程，每个测试线程都执行QD8队列长度的4KB随机读取，以此来充分挖掘NVMe固态硬盘的随机存取IOPS潜能。

点击绿色旗帜按钮开始测试：测试结果中我们关注的是Total I/Os per second，即每秒的读写IO总数，IOPS。IOMeter生成的记录文件可以通过Excel打开并根据需要制成表格。

点击Total I/Os per Second右侧的>按钮，可以以图形化方式展示IOPS数值。下图中测得的随机读取IOPS为685412，优于厂商标称值640000 IOPS。

随机读写QD队列深度测试：

前面的测试只测量了4KB一种读写区块的随机读写能力，而且是基于高QD队列深度下的峰值表现。电脑在实际使用中硬盘需要面对各种不同区块大小、各种队列深度的使用条件。所以接下来我们将通过IOMeter测试不同队列深度下不同区块的随机读取（RR）和随机写（RW）性能。

在设置好测试项目之后，切换到Test Setup选项卡，于Cycling Option循环选项中选择Cycle #Outstanding I/Os –run step outstanding I/Os on all disks at a time.测试队列深度从1开始，到128结束，每次循环结束后测试队列深度数值翻倍：

测试完成后使用Excel打开IOMeter生成的测试结果文件，可以利用它来制作各种数据图表。

下图是制作好的NVMe SSD不同区块的随机读写QD趋势图表，其中展示了SSD随QD队列深度增长的良好性能成长性。

以上就是固态硬盘评测中常用的IOMeter测试项目。此外IOMeter还可用作填盘测试工具，用于在SSD内生成指定大小的不可压缩数据文件，然后通过其他测试软件评估SSD在不同盘内空间占用率下是否存在掉速。